Servizio di controllo avanzato della polvere FLIR per le telecamere per sistemi di visione

Ricercatori, produttori e diagnosti in campi specializzati sanno che quanto minore è la scala, tanto maggiore è l'importanza di poter disporre di dispositivi di acquisizione di immagini privi di particolato che potrebbe ostruire o oscurare un campione ingrandito. Applicazioni quali la microscopia a fluorescenza, la classificazione di cellule o tumori, la citometria, la diagnostica ematologica, i controlli sui display e la produzione di semiconduttori richiedono percorsi ottici estremamente puliti, per garantire precisione e affidabilità dei risultati.

FLIR pulisce e assembla tutte le ottiche delle telecamere per sistemi di visione presso l'impianto di produzione in Canada, in un ambiente pulito dotato di certificazione ISO (ISO7 - Classe 10000). Questo livello standard di controllo della polvere in genere è sufficiente per queste applicazioni, dove per "polvere" si intende qualsiasi particolato di materiale estraneo. Tuttavia, per alcune applicazioni è necessario adottare uno standard ancora più elevato. In teli casi, FLIR offre un servizio di controllo avanzato della polvere per tutte le sue telecamere per sistemi di visione, fatta eccezione per i modelli Board Level Blackfly S (USB3/GigE) e Firefly.

Metodo di misurazione

Durante i test di contaminazione, tutte le superfici che potrebbero contenere particolato vengono sottoposte a ispezione con illuminazione da una fonte di luce collimata mediante l'utilizzo del metodo di contrasto weber. La tolleranza standard per le soglie di contrasto weber varia a seconda dei modelli di telecamera.

Una fonte di luce viene posizionata a una distanza prefissata dalla flangia dell'obiettivo della telecamera, in modo da produrre una fonte di luce puntiforme equivalente a circa F/100.

Misurazione della qualità di una superficie ottica (semplificata)

La figura sopra riportata illustra la configurazione approssimativa del metodo di misurazione della qualità di una superficie ottica di FLIR. Le definizioni sono le seguenti:

• CO – Superficie esterna vetro di copertura*
• CI – Superficie interna vetro di copertura
• SO – Superficie esterna del vetro del sensore
• SO – Superficie interna del vetro del sensore

*È importante notare che, sebbene la superficie esterna del vetro di copertura venga ispezionato e pulito, non è possibile garantire che su questa superficie non si depositi polvere quando il cliente apre il percorso ottico.

Parametri per l'acquisizione di immagini:

• Guadagno = 0 dB
• Tempi di esposizione impostati in modo che l'intensità dell'immagine sia di 100 pt nel formato ADC e pixel a 8 bit.
• Offset livello del nero = 0

Parametri di soglia:

Le superfici ottiche potrebbero presentare anomali, quali depressioni, graffi, imperfezioni del rivestimento, polvere, ecc. Per eseguire i test che consentono di valutare se le telecamere soddisfano standard così rigorosi, le dimensioni delle anomalie vengono convertite nel diametro del cerchio equivalente ai fini della misurazione. (nota: queste soglie non vengono applicate a CO). Contattaci per illustrarci le tue esigenze specifiche e/o i requisiti per i tuoi progetti.

Il nostro impegno

Per soddisfare i requisiti specializzati per il rilevamento di oggetti molto piccoli durante la produzione di semiconduttori destinati al rigoroso settore dei dispositivi medicali, le nostre telecamere per sistemi di visione offrono alcune altre caratteristiche e funzionalità, oltre al servizio avanzato di controllo della polvere. Alcune di queste sono le opzioni di controllo di firmware e congelamento, cicli di supporto dei prodotti molto lunghi (più di 10 anni) e funzionalità hardware e software che consentono agli integratori di calibrare i dispositivi in modo da ottenere riproduzioni dei colori estremamente accurate e prestazioni eccellenti in condizioni di scarsa illuminazione.

Queste caratteristiche rendono le telecamere per sistemi di visione FLIR particolarmente adatte alle applicazioni più complesse di ingegneria biomedicale, sviluppo di prodotti ottici, produzione di semiconduttori, ricerca spaziale e altri campi specializzati.

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